Электронные

Электронные микроскопы

При проведении анализа образца с помощью электронной микроскопии поверхность образца сканируется точно сфокусированным пучком электронов. Облучение электронами приводит к излучению вторичных электронов, обратному рассеянию электронов высокой энергии и возникновению рентгеновских лучей, характеристики которых зависят от элементов образца.

Фильтр по товарам
Фильтр по типу «Применение»

Наука о живом

Электроника

Природные ресурсы

Материаловедение

Металлургия

Фильтр по названию
Применить фильтр
Сбросить параметры
V600 and V600CE Focused Ion Beams
Разрешение в режиме ионного пучка
5 нм
V400ACE
Разрешение в режиме ионного пучка
4.5 нм
Inspect™ Линейка приборов включает в себя два растровых электронных микроскопа (РЭМ
Ускоряющее напряжение
200В – 30кВ
Ток пучка
до 2 мкА (плавно изменяемый)
Cканирующий электронный микроскоп Apreo (СЭМ) Thermo Scientific ™
Диапазон тока пучка:
от 0,1 пА до 400 нA
Диапазон энергий у поверхности образца
от 20 эВ до 30 кэВ
Функция замедления пучка
от –4000 В до +600 В