Вам нужно решить научную или прикладную задачу в области материаловедения, микроэлектроники, природных ресурсов, биологии или медицины, разработать методику исследований, повысить эффективность технологического процесса?

Группа высококвалифицированных исследователей и лаборантов компании СМА (включая привлеченных экспертов из ведущих НИИ) проводит опытно - конструкторские разработки в микроскопии на современной приборной базе  собственной лаборатории, что позволяет находить ответы на самые актуальные научные и прикладные вопросы.

Изложите нам Вашу задачу и мы найдем способ ее решения!

ЗВОНИТЕ!
тел. +7 (495) 933-43-17
email:Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Некоторые примеры наших опытно- конструкторских разработок в области микроскопии:

• «Исследование микроструктуры композитов, в том числе биметаллов, полученных методом взрыва.»

    Цель: Определение структуры границ раздела и состава композитов, полученных методом взрыва.

• «Создание и исследование тонкопленочных структур Pt на подложке Si»

    Цель: Создание тонкопленочных структур Pt на подложке Si (метод магнетронного распыления тонкопленочных структур), предназначенных для использования в качестве исходного материала для последующей обработки фокусированным ионным пучком.

• «Исследование возможности совершенствования методов и средств растровой электронной микроскопии для анализа топологии интегральных микросхем с топологической нормой 180 нм.»

    Цель и задачи: Исследование возможности автоматизированной коррекции геометрических искажений изображений, полученных средствами растровой электронной микроскопии, посредством совершенствования СПО для получения панорамного изображения слоя ИМС путем сшивки отдельных кадров.

•  «Диагностика сверхтвердых покрытий на основе многослойных соединений нитридов переходных материалов с толщинами отдельных слоев в нанометровом диапазоне»

    Цель: Проведение структурной и фазовой диагностики морфологии, фазового и химического состава многослойных покрытий с толщинами отдельных слоев в нанометровом диапазоне комплексными рентгеновскими, а так же электронно- и ионно-зондовыми методами. А так же Исследование повреждений в покрытиях на основе многослойных соединений нитридов переходных материалов.

• «Диагностика сверхтвердых покрытий на основе нитрида титана осажденных методом плазменной ионной имплантации»

    Цель задачи: Структурная и фазовая диагностика морфологии фазового и химического состава двухкомпонентных покрытий комплексными рентгеновскими, а также электронно- и ионно-зондовыми методами. А так же Исследование повреждений в покрытиях на основе TiN.

• «Разработка Системы удаленного доступа»

    Цель: Разработка Системы удаленного доступа для авторизованного многопользовательского доступа (на управление и просмотр) сложными многофункциональными аналитико-технологическими комплексами и приборами через защищенные каналы доступа используя сеть Интернет.