Компания
Новости
Статьи
Области применения
Войти
Регистрация
Логин
Пароль
Запомнить меня
Войти
Закрыть
* Имя:
* Логин:
* Email:
* Подтвердите Email:
* Пароль:
* Подтвердите пароль:
Поля отмеченные знаком (*) обязательны для заполнения.
Регистрация
Закрыть
Искать
Оставьте заявку
Системы для микроскопии
и анализа
+7 495 933-43-17
Адреса и контакты
Оставьте заявку
Инжиниринг
Оборудование
Микроскопы
Системы микроанализа
Анализаторы
Пробоподготовка
Аксессуары
Другое
Архив
Сервис
Гарантийное обслуживание
Послегарантийное обслуживание
Расчет сервисного контракта
Лаборатория
Аналитические работы
Обучение
Аренда
Демонстрация
Методическая поддержка
Удаленный доступ
О нас
НИОКР
Оборудование
/
Микроскопы
Электронные
Рентгеновские
Оптические
Фильтр по товарам
Фильтр по типу «Применение»
Наука о живом
3D гистология и цитология
Археология и палеомедицина
Импланты и биосенсоры
Косметическая и пищевая продукция
Медицинское материаловедение
Фармакология
Электроника
Интегральные микросхемы и структуры
Печатные платы
Магнитные запоминающие устройства
Электронные компоненты
Материалы для микроэлектроники
Природные ресурсы
Нефтегазовая отрасль
Космическая геология
Твердые полезные ископаемые
Почвы
Материаловедение
Наноматериалы
Аддитивные технологии
Керамические материалы
Композитные материалы
Конструкционные материалы
Полимерные материалы
Строительные материалы
Металлургия
Огнеупоры
Порошковые материалы
Покрытия
Стали и сплавы
Сырье для металлургического производства
Фильтр по названию
Применить фильтр
Сбросить параметры
Defect Analyzer 300 HP
Напряжение электронного пучка
200 В - 30 кВ
Напряжение ионного пучка
5 кВ - 30 кВ
Разрешение в режиме электронов
5 нм
Пользовательский интерфейс
Icon-привод, WindowsTM 2000 GUI
VersaXRM
Пространственное разрешение
< 0.7 мкм
OLYMPUS CX41
OLYMPUS BX51M
OLYMPUS BX51
OLYMPUS BX41M
Страницы:
Предыдущая
1
2
3
4
5
6
7
Следующая
