Модель 120 обеспечивает полное электронное управление двухструйным электрополировщиком. Блок автоматической регулировки питания контролирует поток электролита с помощью изменения различных параметров, например, скорости двигателя и напряжения в цепи при полировке. Кроме того он имеет возможность управлять источником света, звуковыми и визуальными датчиками, менять чувствительность обнаружения и контур фотоэлемента.

Два аналоговых счетчика показывают напряжение полировки и текущую стадию процесса. Переключатель имеет две позиции – с подачей тока или без, что позволяет работать в режиме электрополировки или химического травления. Для связи блока управления питанием и электрополировщика требуется всего лишь один соединительный кабель.

Модель 140 представляет собой цифровое устройство для управления питанием, разработанное специально для использования с моделью электрополировщика 110 Twin-Jet Electropolisher. Блок управления контролирует поток электролита, напряжение и ток полировки, источник света, цепь фотоэлемента и визуальные и звуковые предупреждающие сигналы. Цифровой дисплей позволяет проводить точную настройку и мониторинг напряжения и уровня тока в процессе работы.

Устройство фотоэлемента улавливает самые первые признаки проникновения света через образец и активирует как звуковые, так и визуальные сигналы оповещения пользователя, независимо от положения насоса и переключателей полировки. Переключатель запускает контроль источника света и управляет текущим потоком. Количество света, необходимого для активации фотоэлемента, может быть настроено в соответствии с требованиями по перфорации образца. Светодиоды показывают, какой режим работы активен в настоящий момент.

Автоматический режим работы насоса. Остановка потока электролита, когда свет начинает проникать через образец.

Непрерывный режим работы насоса. Насос остается активным и после того, как свет начинает проникать сквозь образец, и фотодетектор активирует систему оповещения пользователя. Эта функция позволяет продолжать процесс полировки и после того, как была детектирована небольшая перфорация образца.

Автоматический режим полировки. Останавливает полировку в тот же момент, когда свет начинает проникать сквозь образец.

Непрерывный режим полировки. Напряжение продолжает подаваться и после того, как свет начал проникать сквозь образец, что позволяет продолжить полировку. Звуковой сигнал оповещения пользователя может быть отключен в любой момент в течение всего промежутка оповещения. Световой индикатор при этом продолжает работать.

Низко температурная ячейка используется в дополнение к модели 110 Twin-Jet Electropolisher для работы при криогенных температурах. Контейнер с электролитом, который содержится в стеклянной посуде, охлаждается с помощью теплообмена с охлаждающей средой, такой как жидкий азот и метанола.

Двойные стенки и усиленная изоляция всей конструкции позволяет поддерживать температуру в течение всего процесса электрополировки. Отверстие в верхней части ячейки обеспечивает доступ к термометру или термопаре. Ячейка полностью изготовлена из материалов, не взаимодействующих с электролитом.

Устройство для перфорирования образцов

Назначение: изготовление образцов заданной формы путем механического воздействия.

Варианты перфорации: нарезка дисков 2,3 мм и 3,0 мм (другие размеры предоставляются по запросу)

Устройство для шлифовки образцов

Назначение: ручная механическая шлифовка образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей микроскопии.

Позволяет проводить шлифовку образцов диаметром до 18 мм.

Утонение образца до 0,5 мм.

Устройство для перфорирования образцов

Назначение: устройство предназначено для ультразвуковой нарезки твердых и хрупких материалов. Резка проводится путем возбуждения кристаллов цирконата-титана свинца PZT на частоте 26 кГц. Средой резки является абразивная суспензия – нитрид бора либо карбид кремния.

Возможные формы образцов: диски, стержни, прямоугольные пластины.

Утонение от 10 микрон до 10 мм.

Режущие инструменты: диски диаметром 3,0 мм и 2,3 мм, прямоугольные пластины размерами 2 мм х 3 мм и 4 мм х 5 мм (другие размеры доступны по запросу).

• Точное приготовление поперечных срезов для ПЭМ
• Используется для выравнивания поверхностей
• Производит образцы с толщиной, соответствующей толщине слоя клея

Приготовление точных поперечных срезов для ПЭМ-образцов.

XTEM Prep Kit позволяет легко укладывать и соединять вместе прямоугольные пластины, полученные из интересующих объемных материалов. Набор тисков позволяет держать пластины неподвижно, пока совместимая с вакуумом эпоксидная смола твердеет. Из вафельной структуры впоследствии вырезается сердцевина, и она делится на образцы дисковой формы. Модель 180 XTEM Prep Kit создает образцы, обладающие высокой механической прочностью с толщинами, соответствующими толщине слоя клея. Комплект включает в себя все компоненты, необходимые для производства высококачественных поперечных срезов для исследований.

Выравнивание поверхностей.

Для изучения поверхностей методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ), очень важно, чтобы эта поверхность была параллельна падающему пучку электронов. Одним из методов получения таких поверхностей является изготовление плоско-параллельного сечения. Типичные образцы, полученные таким методом, являются составной частью полупроводниковых приборов, из них изготавливают слоистые структуры тонких пленок и композитные материалы.

Назначение: механическая шлифовка образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей микроскопии.

Варианты шлифовки: плоское шлифование, вышлифовка ямок, полировка.

Утонение образца до толщины порядка нескольких микрон.

Держатель образца: вращающийся прецизионный держатель, позиционирование образца посредством магнитной пластины.

Пользовательский интерфейс: управление вынесено на переднюю панель устройства с жк-экраном.

Модель Fischione 1050 ТЕМ Mill является отличным инструментом для создания тонких, прозрачных для электронного пучка образцов, необходимых для ПЭМ визуализации и анализа. Модель 1050 включает в себя два независимо регулируемых ионных источника TrueFocus (патент находится в рассмотрении), систему охлаждения образцов жидким азотом, автоматический контроль газов и безмасляную вакуумную систему для сверхчистой работы с образцами. Держатель образца приспособлен к двусторонней резке с наклоном до нуля градусов без затенения образца. Модель 1050 имеет блокировку вакуумной системы для быстрой смены образца. Углы наклона регулируется в диапазоне от -10 ° до +10 ° непрерывно. В дополнение к полному вращению образца, согласованному с работой ионного пучка, программируемый контроль угла качания идеально подходит для приготовления поперечных срезов – образцов для XTEM.

Истончение до прозрачности для электронного пучка.

Ионное травление используется для уменьшения толщины образцов, с которыми работают в области естественных наук, до той степени, чтобы они стали прозрачны для электронов. Инертный газ, обычно аргон, ионизируется, а затем ускоряются по мере приближения к поверхности образца. Путем передачи импульса, падающие ионы распыляют материал с поверхности из образца с контролируемой скоростью. Охлаждение жидким азотом предметного столика является весьма эффективным для устранения артефактов.

Передовые технологии для ионного источника.

Два ионных источника TrueFocus точно управляют диаметром ионного пучка, попадающего на образец независимо от энергии ионов. Уникальная конструкция источника ионов TrueFocus поддерживает малый диаметр ионного пучка даже при низком ускоряющем напряжении. Ионные пучки могут быть сфокусированы на одной или обеих поверхностях образца. При работе в верхнем диапазоне энергий (до 6.0 кэВ) травление происходит быстро даже при малых углах. При работе с низкими энергиями (около 100 эВ), материал образца постепенно распыляется с поверхности без возникновения искусственных артефактов.

Программируемая, автоматическая работа.

Модель 1050 работает с минимальным вмешательством пользователя. Она имеет модульную конструкцию для выполнения основных инструментальных операций или полностью автоматизированного управления. Универсальная платформа управления руководит всей работой прибора. Базовая версия модели 1050 предназначена для пользователей, которым требуется только основной, элементарный уровень технического оснащения прибора. В премиум-версию модели 1050 добавлен полный компьютерный контроль для настройки, оперирования и записи различных параметров прибора. Процесс ионного травления может быть автоматически завершен, если достигнута критическая температура, истекло установленное время или с помощью лазерной системы фотодетектирования.

Расширенные возможности просмотра.

Модель 1050 ТЕМ Mill работает со стерео микроскопом для улучшения свойств визуализации. Большое рабочее расстояние микроскопа позволяет наблюдать образец, который в настоящее время подвергается травлению. Модель 1050 может быть совмещена с системой визуализации, использующей микроскоп с большим увеличением, CCD-камерой и видео монитором для получения и демонстрации изображений.

Революционный концентрированный пучок ионов ультранизкой энергии.

Система подготовки образца 1040 NanoMill TEM является отличным инструментом для создания высококачественных тонких образцов, необходимых для современной визуализации и анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Она идеально подходит как для пост-ФИП (сфокусированный пучок ионов) обработки, так и для совершенствования условно подготовленных образцов.

Направленное «нано-травление» с использованием ультранизких энергий.

Система NanoMill оснащена газовым источником ионов, что позволяет получать ионы с такими низкими энергиями, как 50 эВ при размере пучка всего 2 микрона. Это дает возможность готовить образцы без аморфизации, имплантации или переосаждения. Ионной пучок может быть прицельно направлен в конкретное место на поверхности. Детектор вторичных электронов (secondary electron detector - SED) используется для визуализации вторичных электронов (индуцированных ионами), сгенерированных в области поверхности образца, интересующей исследователя.

Автоматическое функционирование.

Система NanoMill легко программируется. Регулируемые энергии ионного пучка, углы травления, вращение образца и параметры криогенного охлаждения образца обеспечивают максимальную гибкость в работе, что способствует оптимальной подготовки широкого спектра различных образцов. Управляемый клапан блокировки вакуумного насоса облегчают быструю смену образцов для приложений, нуждающихся в высокой пропускной способности.

Одновременно очищает и образцы, и держатели.

Модель 1020 Plasma Cleaner быстро и автоматически удаляет органические загрязнения (содержащие углеводороды) с поверхности образцов для электронной микроскопии и держателей образцов. Низко энергетичный химически активный плазменный газ очищает поверхности без изменения химического состава или структурных характеристик. Модель 1020 отличается легкостью в использовании блока управления на передней панели и безмаслянной вакуумной системы для оптимального выполнения работ.

Расширенные возможности визуализации и анализа.

Очистка производится исключительно благодаря химически активным смесям газов, образующимся в плазме, которые реагируют с углеродистым материалом на образце и держателе. Высокочастотная неравновесная плазма создается с помощью газовой смеси из 25% кислорода и 75% аргона. Свободные электроны ускоряются до высоких скоростей осциллирующим электромагнитным полем (13,56 МГц), которое возбуждают атомы газа и создает плазму. Ионы плазмы врезаются в поверхность с энергией менее 12 эВ, что ниже порога распыления образца.

В электронных микроскопах с источниками электронов высокой яркости, образцы, которые не были обработаны плазмой, имеют склонность загрязняться. Модель 1020 для плазменной очистки обеспечивает уверенность, что углеродистые загрязнения не будут мешать процессу визуализации образца или анализа изображения, даже в случае микроанализа с помощью тонкого зонда в течение длительного периода.

Стандартные и специализированные держатели образцов.

Плазменная очистка прекрасно подходит для боковых держателей образцов для всех коммерческих ПЭМ, а также для СЭМ-образцов и широкого спектра сыпучих материалов. Специализированный порт позволяет очистить образцы, прикрепленные на углеродную сетку.

Одновременное очищение образцов и держателей.

Модель 1070 NanoClean автоматически и быстро удаляет органические загрязнения (углеводороды) с образцов для приложений микроскопии. Система плазменной чистки является многофункциональной и позволяет одновременно очищать и образцы для электронной микроскопии (ЭМ), и держатели образцов, и заглушки. Она также идеально подходит для различных методов исследования поверхности.

Модель 1070 отличается простым в использовании встроенным сенсорным модулем, который дает возможность пользователю управлять отдельными инструментальными функциями, такими как передаваемая мощность, давление в камере, состав газовой смеси и длительность работ. Модель 1070 специально предназначена для очистки образцов электронной микроскопии и держателей, для этого она содержит строенную программу с оптимальными условиями плазменной обработки. Также доступны другие программы, например, для таких приложений, как повышение гидрофильных свойств биологически совместимых матриц.

Усовершенствованная визуализация и анализ.

Очистка производится исключительно с помощью химически активных соединений газов, образующихся в плазме в результате химической реакции с углеродистым материалом на образце и держателе образца. Низкоэнергетичный поток индуктивно связанной плазмы высокой частоты эффективно очищает поверхность образца без изменения его химического состава или структурных характеристик.

В электронных микроскопах с источниками электронов высокой яркости образцы, не обработанные плазмой, как правило, загрязняются. Модель 1070 NanoClean обеспечивает уверенность в том, что углеродистые загрязнения не повлияют на процесс визуализации или анализ даже в течение длительного зондового микроанализа. Сильно загрязненные образцы могут быть очищены в течение двух минут или даже быстрее.

Особенности.

Вакуумная система в модели 1070 является безмаслянной. Камера включает в себя блокировщик загрузчика для быстрой смены образца, что делает модель 1070 идеальной для приложений, нуждающихся в высокой пропускной способности. Модель 1070 содержит три контроллера расхода массы и предназначена для работы с несколькими газами. Как правило, проверенная временем газовая смесь из 25% кислорода и 75% аргона подключается к одному из газовых входных каналов. Модель 1070 оснащена двумя дополнительными входами для газов, которые могут быть добавлены в камеру с помощью встроенной технологии напуска газа. Автоматическая согласующая схема обеспечивает подходящую подведенную мощность для конкретного применения. Соответствующая схема регулирует мощность плазмы при необходимости обработки объектов при различных условиях или различными газами.

Стандартные и специализированные держатели образцов.

Модель 1070 отлично совместима с держателями для образцов с регулировкой с одной или двух сторон для всех коммерческих ПЭМ, СПЭМ или СЭМ. Дополнительный порт позволяет помещать в камеру для обработки крупные или сыпучие объекты. Это идеально подходит для сканирующей электронной микроскопии или приложений науки о поверхности. Специализированный порт для держателей образца позволяет проводить чистку образцов, находящихся на углеродных сетках.

• Многофункциональность – одновременная очистка образцов, держателей и заглушек.
• Индуктивно-связанная плазма для достижения оптимальной производительности.
• Отсутствие распыления - химический состав и структурные характеристики остаются без изменений.
• Возможность работать с двумя держателями для образца электронной микроскопии.
• Совместимость с держателями с боковой регулировкой для всех коммерческих ПЭМ, СЭМ и СПЭМ.
• Возможность работы с крупными объектами.
• Идеально подходит для методов исследования поверхности.
• Несколько впускных отверстий газа с возможностью их микширования.
• Высокочастотное напряжение с автоматической согласующей схемой.
• Безмаслянная вакуумная система.
• Простая настройка системы с помощью сенсорного интерфейса.
• Удобство при откачке для контейнеров, хранящихся в вакуумной камере.