Теперь в разделе "Электронные микроскопы FEI Company" представлен уникальный прибор для получения изображения - PHENOM. С ним можно ознакомиься здесь. Вы также можете посетить англоязычный сайт, целиком посвященный данному прибору: www.phenom-world.com

Компания «Системы для микроскопии и анализа» приглашает Вас посетить IV специализированную выставку нано- технологий и материалов NTMEX-2007 с 05- 07 декабря по адресу: г. Москва, Новый Арбат, 36, здание Правительства Москвы.

Наша компания приняла участие в Международной специализированной выставке приборов и оборудования для научных исследований "SIMEXPO - Научное приборостроение - 2007". Выставка прошла в МВЦ "КРОКУС-ЭКСПО" с 20 по 22 ноября.

В рамках инновационной образовательной программы, одной из основных целей которой является развитие современной науки, наша компания произвела установку электронно-ионного сканирующего микроскопа в университетском материаловедческом центре Томского Государственного Университета.(фото из февральского выпуска газеты "Alma Mater", ТГУ)

На сайте появился новый раздел, посвященный созданию лабораторий. Ознакомиться с ним можно в разделе "Услуги" или пройдя по данной ссылке.

Теперь на нашем сайте вы можете ознакомиться с продукцией компании Physical Electronics (PHI). Информация размещена по этому адресу

25 октября 2006 года в конференц-зале Института Кристаллографии РАН состоялся семинар «Дифракция обратноотражённых электронов и фазовый анализ в растровой электронной микроскопии».

Появилась русская версия сайта компании SPI Supplies. С содержимым этого сайта можно ознакомиться по адресу www.2spi.ru

3-го июня 2006 года в Москве, в Институте Кристаллографии Российской Академии Наук (ИК РАН), был открыт Пилотный Научно-Технический Центр Совершенствования и Развития Нанотехнологий.

Уважаемые господа! Приглашаем вас посетить наш стенд на выставке АналитикаЭкспо, которая будет проходить с 14 по 17 марта 2006 г. в КВЦ Сокольники. Подробнее с материалами выставки можно ознакомиться на сайте www.mvk.ru 

С 5 по 7 декабря 2005 года компания "Системы для микроскопии и анализа" приняла участие во Второй специализированной выставке нанотехнологий и материалов "NTMEX-2005".

3–7 октября 2005 г. ООО «Системы для микроскопии и анализа» примет участие в Международной конференции «Микро- и наноэлектроника—2005» (ICMNE-2005) Московская обл., Звенигород, пансионат "Липки".

27 - 28 сентября 2005 г. ООО «Системы для микроскопии и анализа» приглашает Вас посетить наш стенд № 701 С на выставке SEMI EXPO CIS 2005, которая будет проходить в МГВЗ "Новый Манеж" по адресу Москва, Георгиевский переулок, дом 3/3, стр. 3 с 10:00 до 17:00. 

В Санкт-Петербургском государственном электротехническом университете "ЛЭТИ" (СПбГЭТУ) состоялась презентация первого в России нанотехнического комплекса Strata FIB 205 компании FEI Company. 

Подробнее... 

Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ) запустил первый в Росии нанотехнологический комплекс Strata FIB 205 компании FEI Company. 

Подробнее...