Мы открыли обновленный сайт!

Приглашаем к путешествию по нашим WEB страницам. Будем рады Вашим пожаланиям.

22 мая в Технопарк "Сколково" совместно с кластером БМТ и ЦКП «Микроанализ» провел презентацию передовых методик и достижений электронной микроскопии в биомедицинской области.

4 участника семинара протестировали образцы на оборудовании ЦКП «Микроанализ» и договорились о демо работах.

Первый заказ получил ЦКП «Микроанализ» Технопарка Сколково, открывшийся на этой неделе в здании «Урал». Компания-участник «Савант Рисерч энд Девелопмент» намеревается провести исследование морфологии образцов диэлектриков, получение изображений с высоким разрешением в естественной среде, получение карт распределения элементов на заданном участке образца (chemical mapping), структурный анализ образцов карбонатов и силикатов.

18 апреля в Технопарке «Сколково» состоялось открытие Центра коллективного пользования «Микроанализ».

Первый центр коллективного пользования Технопарка «Сколково» во временном здании БЦ «Урал» ЦКП «Микроанализ» открыт 18 апреля 2012 совместно с ООО «Системы для микроскопии и анализа».

Уважаемые коллеги! Сообщаем Вам, что ООО«СМА» является участником XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел ( РЭМ-2011 ), который пройдет с 31 мая по 2 июня 2011 года в г.Черноголовке.

31 мая - 2 июня 2011 года

Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2011)

Место проведения: г.Черноголовка

http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/index.htm

26 - 29 апреля 2011 года

9-ая международная специализированная выставка аналитического оборудования, контрольно-измерительных приборов, лабораторной мебели, химических реактивов и материалов, нанотехнологий и биоаналитики.

Место проведения: Москва, МВЦ "Крокус Экспо", пав.2, зал 7.
Наш стенд: С 1601.

http://analyticaexpo.ru/

Приглашаем Вас прослушать доклад директора компании «СМА» Шкловера В. Я. «ТРЕХМЕРНАЯ ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ И АНАЛИЗ НАНОСТРУКТУР ЭЛЕКТРОННО- И ИОННО-ЛУЧЕВЫМИ МЕТОДАМИ: ОТ МАТЕМАТИЧЕСКИХ МОДЕЛЕЙ К ПРАКТИЧЕСКОМУ ИСПОЛЬЗОВАНИЮ», который будет прочитан в рамках 4-ой Школы «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 27 апреля в 12 ч. 05 мин. (Дом ученых СО РАН, г.Новосибирск, http://conf.nsc.ru/nanomet-2011/ru/invitation).

ООО «СМА» является участником выставки АНАЛИТИКА ЭКСПО`2011 . Наш стенд № С 1601 .

Доклад компании «СМА» "ПЕРСПЕКТИВЫ ПРИМЕНЕНИЯ ЭЛЕКТРОННО- И ИОННО-ЗОНДОВЫХ МЕТОДОВ ПРИ РАЗРАБОТКЕ И ИССЛЕДОВАНИИ КЕРАМИЧЕСКИХ И КОМПОЗИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ" включен в программу Всероссийской школы-семинара "ФИЗХИМИЯ-2010" по тематическому направлению деятельности национальной нанотехнологической сети "Композитные наноматериалы». 

1-3 ноября 2010 года

III Международный форум по нанотехнологиям RUSNANOTECH 2010

Место проведения: Москва, ЦВК «Экспоцентр», павильон «ФОРУМ», Стенд ООО «СМА»: G 9-5

http://www.rusnanoforum.ru/

Приглашаем Вас прослушать доклад «Виртуальные системы для микроскопии и анализа наноструктур» директора компании «СМА» Шкловера Владимира Яковлевича, посвященный возможностям применения технологии удаленного доступа и управления аналитическим оборудованием в реальном времени на расстоянии.

26-28 октября 2010 года

Российская техническая нефтегазовая конференция и выставка SPE по разведке и добыче

Место проведения: Москва, ВВЦ, пав.75, стенд С50

http://www.russianoilgas.com/

26 октября 2010г. представитель компании FEI Company Херман Леменс выступит с доладом: "FIB/SEM and automated mineralogy for core and cutting analysis". Доклад будет прочитан в рамках Российской нефтегазовой конференции в секции "Сейсмика и петрофизика" в 14ч. 40мин. (ВВЦ, пав.75). 

26-29 апреля 2010 года

Аналитическое оборудование, контрольно-измерительные приборы, лабораторная мебель, химические реактивы и материалы, нанотехнологии, наноматериалы, биоаналитика

Место проведения: Москва, МВЦ "Крокус Экспо", пав.2, зал 7, стенд D1572