Пробоподготовка для СЭМ

Пробоподготовка является ключевым этапом в исследовании любого объекта. Некачественная или недостаточная пробоподготовка может служить причиной ошибок и сбоев с работе оборудования. Это может не только повлиять на результаты работы и качество анализа, но и вывести оборудование из строя. Чтобы избежать подобных сложностей, следует использовать современные высококачественные системы для предварительной подготовки образцов. Подготовка образцов для сканирующего электронного микроскопа может заключаться, например, в удалении лишней жидкости с образца или его заморозке, а также очищении его поверхности от пыли или органических загрязнений. Для проведения анализа на сканирующем электронном микроскопе актуально использовать автоматическую систему управление через сенсорный экран, которая позволяет проводить все процессы с высокой точностью.