Семейство микроскопов Xradia VersaXRM является последним поколением приборов для 3D рентгеновской микроскопии, оптимизированных для проведения неразрушающей микротомографии.
Ряд рентгеновских микроскопов, которые предлагает компания Xradia, предоставляют пользователю новейшие технологии визуализации с использованием рентгеновской компьютерной томографии (КТ) в сочетании с фирменной рентгеновской оптикой. Технические решения для использования набора длин волн позволяют комбинировать семейство микроскопов VersaXRM и лабораторную платформу UltraXRM для реализации единственной возможности получения трехмерного изображения образца без его разрушения в масштабе размеров от миллиметра до нанометра.
VersaXRM представляет собой рентгеновский микроскоп, использующий револьверное устройство для объективов. Такая конструкция дает двухступенчатое увеличение, что позволяет пользователю выбрать увеличение, меняя объективы или меняя оптическое увеличение. Традиционные системы для микро компьютерной томографии ограничиваются использованием просто оптического увеличения. VersaXRM дает контроль над разрешением и фазовым контрастом в широком диапазоне размеров образцов и на большом рабочем расстоянии. Система VersaXRM использует запатентованную технологию рентгеновских детекторов и оптическую колонну для микроскопии с детекторами увеличения объектива для легкого масштабирования. Вы можете перейти от режима сканирования с разрешением около 30 микрон к разрешению в точке вплоть до субмикронного размера с областью сканирования около 2 квадратных мм.
Все системы VersaXRM оснащены надежными рентгеновскими источниками, содержащимися в закрытой трубе, и очень стабильными предметными столиками для образцов. Помимо всего прочего, эти системы рассчитаны так, чтобы значительно уменьшить артефакты, в отличие от традиционных систем компьютерной томографии с использованием плоских панельных детекторов.
Применение:
- Оптимизация полупроводниковых процессов и анализ неисправностей
- Анализ горных пород для разведки нефти и газа
- Исследования окрашенных и неокрашенных твердых и мягких тканей
- Исследования трещин и пористости материалов
- In situ измерения и измерения во времени (4D)
В серию входят 2-е разновидности: VersaXRM и MicroXCT.
- Модели серии
VersaXRM-500
Субмикронное пространственное разрешение на расстоянии от миллиметров до дюймов от источника.
VersaXRM-500 дает возможность работать в областях промышленности и науки с универсальным сочетанием лучших мировых показателей по разрешению и контрастности, гибкости образцов и большим размером рабочей области, что часто бывает необходимо для решения возникающих исследовательских задач.
Технология источника и высокое разрешение детектора обеспечивают непревзойденное субмикронное разрешение даже для больших образцов.
VersaXRM опирается на превосходное разрешение, контрастность и эксплуатационную гибкость, свойственную платформам Xradia, к числу которых относится субмикронное пространственное разрешение – лучший показатель качества изображения, чем просто размер пиксела или воксела. В то же время, микроскоп поддерживает высокое разрешение на больших рабочих расстояниях, подходящих для in situ исследований с использованием климатических камер или загрузочных секций, а также 4D-исследований (во времени).
Преимущества:
- Конструкция микроскопа позволяет работать с высоким разрешением на больших рабочих расстояниях от источника, что необходимо для in situ исследований или визуализации крупных образцов
- Получение изображения одного и того же образца с помощью многоволновой технологии в широком диапазоне увеличений с пространственным разрешением вплоть до 0.7 мкм и меньше
- Поддержка широкого спектра устройств для in situ визуализации с субмикронным разрешением и возможностью загрузки образцов весом до 15 кг
MicroXCT-200
Высокое разрешение и контрастность, большой размер образцов и их различные формы; автоматизированная визуализация нескольких точек.
MicroXCT-200 является универсальной 3D рентгеновской системой визуализации, подходящей для неразрушающего анализа большого количества разнообразных образцов. Уникальная конструкция микроскопа позволяет использовать его для получения изображений с высоким разрешением для относительно больших образцов. Его детекторы приспособлены для визуализации материалов, как с высоким, так и с низким коэффициентом поглощения рентгеновских лучей.
MicroXCT-200 предоставляет уникальную возможность 3D визуализации с высоким разрешением, которая позволяет анализировать и визуализировать мельчающую внутреннюю трехмерную структуру в неповрежденных образцах, что было бы невозможно с использованием стандартных методов для анализа поверхности, таких как атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия или традиционная компьютерная томография.
Области применения:
- Доклинические испытания и медико-биологические исследования
- Пакет программ для факторного анализа полупроводников
- Возможность визуализации материала, характеризующегося высоким или низким коэффициентом поглощения рентгеновских лучей
- Анализ пористости материалов и моделирование микроструктуры для нефтяных и газовых буровых исследований
MicroXCT-200 - универсальная система, обладающая высоким разрешением, для проведения неразрушающей трехмерной рентгеновской визуализации. Уникальная конструкция объектива детектора высокого разрешения позволяет с превосходным разрешением получать высококонтрастные изображения маленьких и больших образцов. Эти объективы детекторов обеспечивают превосходную контрастность даже для плохо поглощающих материалов. MicroXCT-200 оснащен несколькими детекторами с различным увеличением для того, чтобы облегчить процесс поиска нужного увеличения во время съемки. Наличие различных увеличений обеспечивает огромную гибкость в доступных полях зрения и разрешений при большом разнообразии размеров образцов. Кроме того, томография в нескольких точках с помощью имеющихся программных методов позволяет получить изображение без постоянного взаимодействия прибора с пользователем, что позволяет микроскопу работать круглые сутки семь дней в неделю.
MicroXCT-200 представляет собой универсальную систему, которая подходит как для промышленных, так и для научных приложений. Возможность неразрушающей визуализации образцов с большим разнообразием размеров на различных уровнях разрешения позволила микроскопу найти широкое применение в различных областях, включая науки о жизни, материаловедение, анализ полупроводников, а также моделирование для разведки и строительства нефте-и газопроводов.
Преимущества:
-
Неразрушающее получение 3D изображения
-
Высокое пространственное разрешение <1 микрона с размером пикселей до 0.56 мкм
-
Минимальная зависимость разрешения от размера образца
-
Необходимость минимальной подготовки образца
-
Удобное управление системой нескольких детекторов с различными увеличениями
-
Непрерывный режим работы за счет использования автоматизированной томографии в нескольких точках и повторяющегося сканирования
-
Надежность и низкие эксплуатационные расходы системы
-
Высокая скорость работы
MicroXCT-400
Высокое разрешение и контрастность, широкий диапазон размеров образцов; получение изображения в процессе in situ эксперимента.
Микроскоп MicroXCT-400 объединяет в себе все преимущества предыдущей модели MicroXCT-200, а в дополнение к этому имеет большой корпус, более длинный рабочий ход предметного столика, дополнительные входы и столик для загрузки сложных образцов.
Микроскоп специально разработан для удовлетворения потребностей научных исследований и разработок в различных областях. Его вместительная камера позволяет проводить всевозможные манипуляции с образцом. Дополнительные дроссели позволяют соединить различные каналы в микроскопе, что необходимо для in situ экспериментов. Лишний вес образца может легко поддерживаться специальным столиком для сложных образцов, а с образцами увеличенного размера нетрудно работать за счет увеличения диапазона рабочего хода столика. MicroXCT-400 просто незаменим для изучения внутреннего строения и наблюдения за изменениями в трехмерной тонкой структуре самых разнообразных образцов при различных экспериментальных условиях.
Области применения:
- Доклинические исследования в областях наук о жизни и медико-биологических исследованиях
- Пакет программ для факторного анализа полупроводников
- Визуализация материалов, имеющих как низкую, так и высокую адсорбционную способность
- Анализ пористости материалов и моделирование микроструктуры для нефтяных и газовых буровых исследований.
MicroXCT-400 обладает универсальной неразрушающей системой получения трехмерных изображений образцов с высоким разрешением с помощью рентгеновских лучей, предназначенной специально для визуализации образцов различных размеров, а также визуализации при проведении in situ эксперимента. Специально разработанные детекторы объективов высокого разрешения позволяют с высоким разрешением и высоким контрастом получать изображения больших образцов. Дополнительные возможности для перемещения источника излучения и детектора, передвижение и открытие дросселей внутри вместительной камеры дают беспрецедентные возможности для получения изображения образцов во время in situ экспериментов с использованием неподвижного оборудования.
Как MicroXCT-200, прибор MicroXCT-400 оснащен несколькими объективами, с некоторым набором возможных оптических увеличений для удобного масштабирования. Такая универсальная система хорошо подходит для исследований и разработок в академических и промышленных областях.
Преимущества:
- Неразрушающая трехмерная визуализация
- Получение изображения во время in situ экспериментов
- Специальный столик для трудно загружаемых образцов и широкий диапазон рабочего хода предметного столика и детектора
- Высокое пространственное разрешение до 1 микрона, 0,56 мкм - размер пикселя
- Минимальная зависимость разрешения от размера изучаемого объекта
- Минимальная потребность в предварительной подготовке образцаУдобное управление системой нескольких детекторов с различными увеличениями
- Надежность и низкие эксплуатационные расходы системы
- Непрерывный режим работы за счет использования автоматизированной томографии в нескольких точках и повторяющегося сканирования
- Высокая скорость реконструкции
Все системы MicroXCTs оснащены надежными закрытыми источниками рентгеновского излучения, несколькими объективами, которые позволяют легко получать изображение с необходимым увеличением и высоким разрешением и стабильностью получаемого изображения (это реализуется даже при работе сразу после сканирования с более низким разрешением). Линзы с уникальным дизайном разработаны специально для предоставления превосходного контраста даже для легких материалов. Возможность использовать различные увеличения также обеспечивает огромную гибкость прибора в доступном поле зрения и различных разрешениях при большом разнообразии размеров образцов. Кроме того, эти системы спроектированы для значительного снижения количества артефактов при получении изображения, в отличие от традиционных систем компьютерной томографии с использованием плоско-панельных детекторов.
