Растровый электронный микроскоп РЭМ FEI Teneo с системой автоматической минералогии
Растровый электронный микроскоп РЭМ FEI Teneo с системой автоматической минералогии

Высочайшая производительность для получения изображений с высоким разрешением и аналитических приложений

Teneo обеспечивает получение контрастных изображений с высоким разрешением для материалов, которые в обычных условиях трудно исследовать – магнитные материалы, стекла и другие непроводящие образцы. Это позволяет быстро решать поставленные задачи, одновременно сохраняя высочайшую эффективность при работе с традиционными образцами SEM.

Ключевые особенности

Получайте больше данных с неудобных образцов: Лучшие в свое классе разрешение и контраст обеспечивают получение большее количество данных и информации, даже для магнитных материалов.

Решайте задачи быстрее: Высокая пропускная работа в режиме высокого вакууме и низкого вакуума при токе пучка вплоть до 400 нА.

Более легкий захват деталей: Самый широкий спектр детектируемых сигналов благодаря технологии FEI Trinity

Повышение удобства и уверенности: Высокий уровень автоматизации делает FEI Teneo легким в использовании и поощряет пользователей к экспериментам

Настройте микроскоп под Ваши задачи: Гибкая конфигурация SEM позволяет легко настроить микроскоп под Ваши конкретные требования

∙ Получение изображения при высоком вакууме

При оптимальном WD:

∙ 0.8 нм при 30 кэВ STEM

∙ 1.0 нм при 15 кэВ

∙ 1.4 нм при 1 кэВ

∙ Пушка с полевой эмиссией Шотки высокой стабильности

∙ Срок службы источника 12 месяцев

∙ Простая установка пушки и легкое техническое обслуживание – автоматический прогрев, автозапуск, не требуется механических настроек

∙ Диафрагмы с автоматическим прогревом

∙Непрерывный контроль за током пучка и оптимизация диафрагмы

∙ Двойное смещение столика при сканировании

∙ 600 геометрия линзы объектива

∙ Диапазон токов пучка: от 1 пА до 400 нА

∙ Энергия падающих частиц: от 20 эВ – 30 кэВ*

∙ Диапазон ускоряющих напряжений: 200 эВ – 30 кэВ

Показать полностью