Сверхвысокое разрешение трехмерной рентгеновской микроскопии для синхротронных источников излучения с возможностью настройки по энергии.
Серия UltraXRM-S использует мощные рентгеновские лучи, производимые синхротронным источником, для трехмерной рентгеновской микроскопии ультравысокого разрешения. В сочетании с превосходной технологией визуализации при помощи рентгеновского излучения, разработанной для лабораторного прибора UltraXRM-L, серия UltraXRM-S способна давать трехмерные изображения с разрешением 30 нм.
Серия UltraSPX использует в качестве сканирующего рентгеновского микрозонда высоко когерентное рентгеновское излучение, полученное из рабочего пучка синхротрона при помощи ондуляторов и фирменной оптики. Современные технологии, использованные в разработке лазерного интерферометра и пьезостоликов, обеспечивают перемещение пучка излучения и образца с точностью до 5 нм и высокой долговременной стабильностью для проведения картирования образца с ультравысоким разрешением. В мягком рентгеновском диапазоне детектируемая интенсивность, обычно определяемая как функция позиции и энергии рентгеновского излучения, используется для получения ближней тонкой структуры спектров рентгеновского поглощения (XANES) и формирования пакета изображений, раскрывающих химический состав и связанные состояния элементов. При более высокой энергии рентгеновских лучей информация об элементах может быть получена путем детектирования фотонов флуоресценции с чувствительностью, при которой регистрируется даже одна частица на миллиард. Дополнительные возможности детектирования, например, детектирование прошедших фотонов для визуализации фазового контраста или детектирование дифракции для отображения кристаллографических фаз могут быть легко добавлены в систему для получения дополнительной структурной информации. Открытая архитектура системы позволяет варьировать настройки для удовлетворения различных требований заказчика.
Энергией фотонов в источнике синхротронного излучения легко управлять, и это позволяет получать спектроскопические изображения с хорошим элементным контрастом и производить картирование химических состояний. Интегрированная технология фазового контраста Цернике повышает различимость внутренних границ и поверхностей даже в случае низкого абсорбционного контраста. Отработанные технологии предоставляют сложную, но законченную техническую разработку, которая необходима для любого синхротронного объекта, имеющего дело с визуализацией с высоким разрешением. Также доступно оборудование с низкими энергиями фотонов (280 - 540 эВ) и криогенным держателем для образцов, что используется для визуализации органических объектов.
Применение:
- Исследования в области наук о живом
- Расширенный анализ в материаловедении
- Построение моделей для оценки эффективности разработки месторождений нефти и газа
- Пакет программ для факторного анализа полупроводников
- Модели серии
UltraSPX-S
Сканирующий рентгеновский микроскоп сверхвысокого разрешения для синхротронного источника.
Серия UltraSPX-S позволяет использовать достоинства когерентного пучка рентгеновского излучения, доступного на современных синхротронных источниках, для того, чтобы довести широко распространенные рентгеновские аналитические методы, такие как рентгеновская флуоресценция, спектроскопия и дифракция, до исследований с нанометровым масштабом.
Собственные рентгеновские технологии компании Xradia с высокими рабочими характеристиками эффективно применяются в приборах UltraSPX-S для создания сфокусированного пучка рентгеновского излучения с поперечным сечением до 30 нм. Этот рентгеновский зонд производит растровое сканирование всего образца, результатом которого является изображение с высоким разрешением, содержащее информацию о распределении элементов, химическом или кристаллографическом составе в зависимости от энергии фотонов и методики детектирования. Кроме того, теперь стала доступна работа с криогенными образцами для уменьшения последствий радиационных повреждений органического материала.
Применение:
- Исследования в области науки о жизни
- Характеризация полупроводников
- Расширенный анализ материалов
- Исследования в области геологических и экологических наук
Преимущества:
- Структурная, химическая, элементная и кристаллографическая информация на наноуровне
- Ультравысокое оптическое разрешение до 30 нм
- Методики флуоресценции, абсорбции, ближней тонкой структуры спектров рентгеновского поглощения и фазового контраста
- Cтабильность при разрешении менее 5 нм
- Открытая архитектура системы позволяет легко менять конфигурации в зависимости от требований пользователя
- Специализированная система транспортировки проб в криогенном состоянии для минимизации радиационных повреждений органических образцов (для высоко-энергетичных фотонов)
- Специализированная система для работы с образцами в криогенном состоянии для минимизации радиационных повреждений органического материала (версия для высоко-энергетичных фотонов).
UltraXRM-S
В настоящее время для серии UltraXRM-S доступна работа с разрешением до 30 нм, что позволяет получать информацию о микроскопических структурах и процессах, которая ранее была недоступна при работе с традиционными рентгеновскими технологиями визуализации.
Неотъемлемой чертой синхротронных источников является легкая настройка энергии рентгеновского излучения, что позволяет серии UltraXRM-S распознавать различные элементы в объеме и собирать данные абсорбционной спектроскопии с пространственным разрешением. Несколько встроенных переключаемых конфигураций рентгеновской оптики обеспечивают доступность использования рентгеновских лучей с широким спектром энергий: от обычно используемых 5 - 11 кэВ в конфигурации высокой энергии до 280 - 540 эВ и ниже в конфигурации низкой энергии. Современные технологии для повышения отражения конденсоров в сочетании с использованием источников синхротронного излучения второго и третьего поколения с высокой яркостью обеспечивают быстрое и точное получение трехмерных изображений. Интегрированный режим фазового контраста Цернике совмещенный с простой в использовании юстировочной системой позволяет визуализировать образцы с низким коэффициентом поглощения рентгеновского излучения в установленном режиме различных энергий фотонов.
Преимущества:
- Неразрушающая система трехмерной визуализации с помощью рентгеновского излучения
- Сверхвысокое разрешение до 30 нм
- Элементный контраст и абсорбционная спектроскопия поглощения рентгеновских лучей при максимальном пространственном разрешении
- Небольшое время экспозиции при работе на синхротронных источниках второго и третьего поколения
- Интегрированный режим фазового контраста Цернике (при высоких энергиях фотонов)
- Специализированная система транспортировки проб в криогенном состоянии для минимизации радиационных повреждений органических образцов (для низко-энергетичных фотонов)
