В микроскопе Scios применяется аналитическая двухлучевая технология сверхвысокого разрешения, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трехмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы. Scios позволяет получать изображения высокого разрешения и впечатляющую пропускную способность при выполнении двухмерного и трехмерного анализа.