Сканирующие

Сканирующие микроскопы

В сканирующем электронном микроскопе используется детектирование различных сигналов, включая вторичные электроны, обратно рассеянные электроны, рентгеновское излучение и ток через образец.

Основные применения сканирующей электронной микроскопии:

• визуализация топографии поверхности (при регистрации вторичных электронов)
• фрактографические исследования структуры поверхности излома образцов (Шарпи, COD, ST и др.)
• карты распределения элементов на поверхности и в поверхностных слоях (при регистрации обратно рассеянных электронов, оже-электронов и рентгеновского излучения)
• исследования микроструктур и микротекстур