В первый день работы конференции директор компании СМА В.Я. Шкловер представил доклад по теме  «Мультимасштабная объемная микроскопия как современный метод научных исследований» на уже ставшей традиционной Школе молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов».

В программе форума также будут представлены следующие доклады СМА:

ü  «Исследование температурно-временных особенностей формирования γ’-фазы в жаропрочном никелевом сплаве ЭП741НП методами ПЭМ в динамических in situ экспериментах с нагревом образца». Докладчик: Казанский П.Р. 31 мая 18.00-19.30.

Ознакомиться с тезисами доклада

ü  «Исследование границы раздела кремниевый электрод-электролит в литий-ионных аккумуляторах». Докладчик Захаркин М.В. 31 мая в 18.00.

 Ознакомиться с тезисами доклада

ü  «Наноразмерное фазообразование и оптимизация функциональных свойств в тонких пленках двойных оксидов LaxHf1-xOy». Докладчик Дмитриева Т.Г. 1 июня в 14.30.

Ознакомиться с тезисами доклада

ü  «Моделирование фильтрации флюида через модель пустотного пространства терригенного коллектора, полученной по данным рентгеновской компьютерной микротомографии». Докладчик Загвоздин В.П. 1 июня в 16.10.

Ознакомиться с тезисами доклада

ü  «Рентгеновская микроскопия в анализе отказов изделий микроэлектроники». Докладчик Загвоздин В.П. 1 июня 18.00.

Ознакомиться с тезисами доклада

ü  «Объемная микроскопия клеточных структур и микрофлоры эпителия трахеи крысы». Докладчик: Казанский П.Р. 1 июня 18.00.

Ознакомиться с тезисами доклада

Будем рады встрече с вами!