Семинар «Уникальный инструментарий для анализа материалов. Методы XPS, AES и SIMS»

Системы для микроскопии
и анализа

Новости / Семинар «Уникальный инструментарий для анализа материалов. Методы XPS, AES и SIMS»

Октябрь

2008

Уважаемые Господа, позвольте пригласить Вас и Ваших коллег на семинар «Уникальный инструментарий для анализа материалов. Методы XPS, AES и SIMS». Подробнее о семинаре можно узнать