Приглашаем Вас прослушать доклад директора компании «СМА» Шкловера В. Я. «ТРЕХМЕРНАЯ ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ И АНАЛИЗ НАНОСТРУКТУР ЭЛЕКТРОННО- И ИОННО-ЛУЧЕВЫМИ МЕТОДАМИ: ОТ МАТЕМАТИЧЕСКИХ МОДЕЛЕЙ К ПРАКТИЧЕСКОМУ ИСПОЛЬЗОВАНИЮ», который будет прочитан в рамках 4-ой Школы «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 27 апреля в 12 ч. 05 мин. (Дом ученых СО РАН, г.Новосибирск, http://conf.nsc.ru/nanomet-2011/ru/invitation).
Приглашаем Вас также посетить стенд на выставке аналитического оборудования, которая пройдет в рамках данной Школы. На стенде компании «СМА» наши сотрудники расскажут Вам о новых методиках, разработанных Лабораторией применения «СМА» для изучения функциональных наноматериалов, а также продемонстрируют возможности управления аналитическим оборудованием на расстоянии в режиме реального времени.