23
Июнь
2017

Семинар прошел при участии ведущего производителя оборудования для анализа поверхности - Компании Physical Electronics

FullSizeRender 1

Открыл семинар и выступил с приветственным словом директор СМА Шкловер В.Я , который сообщил об успехах компании СМА в разработке решений для  партнеров из научного и производственного сообщества 

Продолжил программу семинара  Президент  PHI Скот Брайан с презентацией, в которой были отражены примеры новейших применений разработок компании PHI для трех основных методов анализа поверхности: Рентгеновской Фотоэлектронной Спектроскопии (XPS), Спектроскопии Оже-электронов (AES) и Времяпролетной Масс-Спектрометрии вторичных ионов (TOF-SIMS). Г-н Брайан отметил, что применение современных методов анализа поверхности есть неотъемлемая часть, как научных исследований, так и индустриальных решений при тестировании Фарм-препаратов и твердотельных накопителей энергии.

20170621 192114 DSC06737 DSC06649 DSC06755 

Интересную дискуссию вызвала, освещенная в докладе возможность исследований и расшифровки строения органических молекул лекарственных препаратов непосредственно в ткани живых организмов с применением MS/MS анализа методом  TOF-SIMS.

В семинаре приняли участие более 40 руководителей и специалистов российских и международных компаний и организаций из области микроэлектроники, биомедицины и материаловедения.

По словам руководителя экспертного отдела департамента НИОКР-сервисов к.ф.-м.н. Рашковского А.Ю., проводившего в этот день демонстрационную сессию прибора PHI VersaProbe  на базе лаборатории СМА - семинар вызвал большой интерес у участников мероприятия. В особенности, достигнутые разработчиками PHI параметры латерального разрешения методов XPS и TOF-SIMS на базе производимого ими оборудования. 

 

Ссылки на материалы семинара: