Лаборатория ЦКП «Микроанализ»
Лаборатория ЦКП Микроанализ в Сколково
Оборудование лаборатории
1. Двулучевая аналитическая система для растровой электронно-ионной
микроскопии FEIVersa 3DLowVac, 2013 г. в.
2. Двулучевая аналитическая система для растровой электронно-ионной
микроскопии FEIHeliosNanoLab 660, 2013 г. в.
3. Анализатор частиц Ambivalue EyeTech. 2012 г. в.
4. Конфокальный микроскоп FEICorrSight, 2014 г. в.
5. Рентгеновский микротомограф высокого разрешения ( <1мкм) XradiaVersaXRM-500, 2012 г. в.
6. Рентгенофлуоресцентный анализатор (спектрометр) EDAXOrbisMicroXRFAnalyzer, 2013 г. в.
7. Сканирующий просвечивающий аналитический электронный микроскоп FEITecnaiF20 FEG, 2013 г. в
8. Просвечивающий электронный микроскоп; FEI Tecnai G2 20 FEG c системой GIF, 2012 г. в.
9. Фотоэлектронный спектрометр PHI Versa Probe II, 2013 г. в.
10. Универсальный световой исследовательский микроскоп Leica DM LB2 с системой
цифровой съемки и специализированным метрологическим программным
обеспечением для обработки изображений ImageScope-М
11. Настольный растровый электронный микроскоп FEI Phenom, 2013 г. в.
12. Система пробоподготовки образцов для растровой микроскопии SPI. 2013 г.в.
13. Просвечивающий электронный микроскоп Philips CM30
Предполагается закупка/установка следующего оборудования:
- Доукомплектование лаборатории системами пробоподготовки для растровой и просвечивающей электронной микроскопии
- Рентгеновский микроскоп с возможностью микротомографии объекта, X-Xradia XRM 510
- Различное аналитическое опционное оборудование для электронной микроскопии.
Общие сведения
- Лаборатория СМА получила статус аккредитованного центра коллективного пользования «Микроанализ» Технопарка «Сколково» в 2012 г.
- Лаборатория оснащена современными системами для оптической, растровой, ионной, просвечивающей микроскопии, а также рентгеновской томографии высокого разрешения, трехмерной микроскопии, фотоэлектронной спектроскопии, анализа частиц методом прямого определения размеров, элементного микроанализа.
- Современная высокотехнологичная инфраструктура лаборатории ЦКП «Микроанализ» позволяет решать широкий спектр актуальных задач в различных областях: микроэлектронике, науке о живом, природных ресурсах, материаловедении.
- Эксплуатация оборудования в 2 смены.
- Предоставление квалифицированного аттестованного персонала.
- Полное техническое обслуживание парка приборов, включая профилактические и ремонтные работы.
- Обеспечение расходными материалами и запчастями без ограничений.
Основные исследования
Рентгеновская микротомография:
- Исследование внутренней структуры образца без его разрушения
- Построение 3D моделей и виртуальных сечений объектов с микрометровым разрешением
- Работа с образцами размерами от нескольких миллиметров до десятков сантиметров
- Расчет внутренней поверхности, объема
- Визуализация и количественный анализ скрытых дефектов, пор, включений
Растровая электронная/ионная микроскопия высокого разрешения (SEM/FIB):
- Исследование морфологии поверхности с нанометровым разрешением
- Исследование приповерхностных слоев в поперечном сечении с субнанометровым разрешением
- Работа с образцами любых типов, в том числе биоматериалами в нативном состоянии
- Элементный анализ поверхности образца в точке, по линии, по поверхности
- Построение 3D моделей и виртуальных сечений объектов с нанометровым разрешением
- Трехмерная реконструкция состава
- Визуализация и количественный анализ скрытых дефектов, пор, включений
- Изготовление и исправление прототипов в области нанотехнологий и микроэлектроники
- Изготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия:
- Определение элементного состава поверхности образца с локальностью до нанометра
- Анализ химических связей между элементами
- Построение карт распределения элементов по поверхности
- Профилирование элементного и химического состава по глубине
Корреляционная конфокальная микроскопия:
- Многофункциональная конфокальная микроскопия для исследований в области Life Sciences
- Корреляционные микроскопические исследования: совмещение изображений световой, электронной микроскопии и аналитических методов
Сканирующая аналитическая высокоразрешающая просвечивающая электронная микроскопия:
- Структурные исследования на атомарном уровне (разрешение до 0,13 нм)
- Исследование живых тканей и биологических систем на уровне макромолекул
- Исследование дефектов структуры кристаллических материалов
- Электронография и кристаллографический анализ
- Анализ элементного и фазового состава нанометровых объектов
Сканирующая микрорентгенофлуоресцентная спектроскопия:
- Экспресс метод определения элементного состава для любых типов образцов
Световая микроскопия:
- Исследование образцов в видимом свете
- Автоматическая обработка полученных изображений по ряду параметров
Анализ концентрации, формы и размера частиц:
- Анализ порошков, гелей, эмульсий, аэрозолей с размером частиц в диапазоне от 0.1 до 3600 мкм
- Экспресс анализ распределения частиц по размерам, распознавание формы и определение концентрации в одном процессе
Обработка баз данных изображений с помощью специализированного ПО:
- Обработка цифровых изображений и морфологический анализ микрообъектов более чем по 40 различным признакам
- Метрологически достоверные результаты измерений
- Объемная визуализация, обработка и анализ данных микроструктурных исследований
- Моделирование динамических процессов в трехмерной среде, реконструированной на основе данных объемной микроскопии
- Сегментирование и волюметрический анализ структурных составляющих (пористость, включения, объемное распределение фазового состава)
Для получения доступа к нашим сервисам отправьте, пожалуйста, заявку.
Наши специалисты свяжутся с Вами для уточнения деталей предстоящей работы, оценят объём работ и подготовят договор на оказание услуг.
Мы также предложим Вам дату и время для проведения демонстрационных работ и очных консультаций. Оплата за эти работы и консультации не взымается. По результатам демоработы согласуется объем, состав исследований и график работ.
