Характеризация внутренней структуры образцов керна горных пород с субмикронным разрешением методом растровой электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (ФИП-РЭМ)

Вовлечение в эксплуатацию пород-коллекторов, относящихся к ТРИЗ, где характерные размеры структур составляют сотни нанометров обуславливает необходимость характеризации внутренней структуры образцов керна на масштабах, существенно меньше 1 микрона.

Получаемые данные позволяют оценить структуру наноразмерного пустотного пространства пород-коллекторов для выбора оптимальной схемы разработки.

Образцы для проведения исследований:

Для проведения исследований средствами растровой электронной микроскопии визуализируется поверхность и выбирается область интереса на поверхности образца, отвечающая требованиям, как представительная (наиболее характерная).

На поверхность области интереса при помощи газо-инжекционной системы (ГИС), установленной в двулучевой аналитической системе наноситься слой платины для защиты поверхности зоны интереса образца от воздействия периферии ионного пучка;

Решение:

Для проведения исследований структуры, морфологии и состава объема микро-образцов с субмикронным разрешением применяется методика ФИП/РЭМ. Данная методика заключается в получении серии последовательных изображений поперечного сечения образца керна после удаления ионным пучком тонкого слоя материала. Реконструкция набора таких изображений позволила провести трехмерную визуализацию (В и Г) микрообъема образца керна с высоким разрешением (до 20 нм).

Полученные результаты позволяют:

• Оценивать пустотное пространство образцов керна отложений, относящихся к ТРИЗ
• Оценивать степень воздействия различных МУН (ТГВ, ПАВ, и т.д.) на наноразмерное пустотное пространство образцов керна горных пород
• Получить исходные данные для планирования рентабельного сценария разработки месторождения

Используемое оборудование:

Для проведения исследований используются двулучевые аналитические системы. Все оборудование оснащено энергодисперсионнымs спектрометрами которые позволяют определять элементный состав образцов Be до U.