04
Июнь
2006

3-го июня 2006 года в Москве, в Институте Кристаллографии Российской Академии Наук (ИК РАН), был открыт Пилотный Научно-Технический Центр Совершенствования и Развития Нанотехнологий.
Появление Центра стало возможным благодаря трехстороннему Соглашению между ИК РАН, американской Компанией FEI и российской организацией «Системы для микроскопии и анализа».
В открытии Центра принимали участие: исполнительный вице-президент по международной торговле и сервису компании FEI Роберт Грегг; директор ИК РАН, член-корреспондент РАН, доктор физико-математических наук, профессор М.В.Ковальчук; заместитель министра по коммерческой деятельности департамента коммерции США Роберт Крезанти; директор компании «Системы для микроскопии и анализа» («СМА») В.Я.Шкловер и другие сотрудники ИК РАН, представители компаний FEI, «СМА» и правительства США.
Ультрасовременное оборудование Центра позволяет получать изображение для анализа материалов на наноуровне, открывая ученым и исследователям РФ широкие перспективы для развития фундаментальной науки и прикладных технологий.
Компании FEI и «Системы для Микроскопии и Анализа» надеются на то, что появление этого Центра сделает возможным дальнейшее развитие прикладных методов и расширение областей применения нанотехнологий.
С полным текстом сообщения компании FEI (на английском языке) можно ознакомиться здесь

photo01

Открытие центра. Слева направо: Роберт Грегг, М.В.Ковальчук, В.Я.Шкловер

photo02

Посещение лаборатории Центра

photo03

Микроскоп Tecnai Spirit (производства FEI)

photo04

Микроскоп Quanta 3D(производства FEI)