01
Декабрь
2005
С 5 по 7 декабря 2005 года компания "Системы для микроскопии и анализа" приняла участие во Второй специализированной выставке нанотехнологий и материалов "NTMEX-2005". Выставка была посвящена демонстрации достижений в области нанотехнологий и наноматериалов и их продвижению на мировом рынке. Компания "Системы для микроскопии и анализа" получила Почетный диплом выставки.