Семинар прошел при участии ведущего производителя оборудования для анализа поверхности - Компании Physical Electronics
Открыл семинар и выступил с приветственным словом директор СМА Шкловер В.Я , который сообщил об успехах компании СМА в разработке решений для партнеров из научного и производственного сообщества
Продолжил программу семинара Президент PHI Скот Брайан с презентацией, в которой были отражены примеры новейших применений разработок компании PHI для трех основных методов анализа поверхности: Рентгеновской Фотоэлектронной Спектроскопии (XPS), Спектроскопии Оже-электронов (AES) и Времяпролетной Масс-Спектрометрии вторичных ионов (TOF-SIMS). Г-н Брайан отметил, что применение современных методов анализа поверхности есть неотъемлемая часть, как научных исследований, так и индустриальных решений при тестировании Фарм-препаратов и твердотельных накопителей энергии.
Интересную дискуссию вызвала, освещенная в докладе возможность исследований и расшифровки строения органических молекул лекарственных препаратов непосредственно в ткани живых организмов с применением MS/MS анализа методом TOF-SIMS.
В семинаре приняли участие более 40 руководителей и специалистов российских и международных компаний и организаций из области микроэлектроники, биомедицины и материаловедения.
По словам руководителя экспертного отдела департамента НИОКР-сервисов к.ф.-м.н. Рашковского А.Ю., проводившего в этот день демонстрационную сессию прибора PHI VersaProbe на базе лаборатории СМА - семинар вызвал большой интерес у участников мероприятия. В особенности, достигнутые разработчиками PHI параметры латерального разрешения методов XPS и TOF-SIMS на базе производимого ими оборудования.
Ссылки на материалы семинара:
