Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ, англ. Transmission Electron Microscopy, TEM)

Просвечивающая электронная микроскопия

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, англ. Transmission Electron Microscopy, TEM) – позволяет получить изображение тонкого образца (около 0.1 мкм) с разрешающей способностью 0.2 нанометров. Объектом исследования может быть любой вакуум-совместимый образец, в том числе замороженная жидкость (Крио-ПЭМ). ПЭМ применяется во всех областях науки и производства – биологии, медицине, материаловедении, электронике и других.

Главной задачей прибора является получение изображений и элементный анализ (в том числе по легким элементам) с нанометровым разрешением.

Применение:

• Микроструктурные исследования с атомным разрешением
• Электронография
• Анализ фазового, элементного и хим. состава с нанометровым разрешением
• Структурные исследования на атомарном уровне (разрешение до 0,13 нм)
• Исследование живых тканей и биологических систем на уровне макромолекул
• Исследование дефектов структуры кристаллических материалов
• Электронография и кристаллографический анализ
• Анализ элементного и фазового состава нанометровых объектов